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经过特定实验条件的高温老化后,通过对老化对象的电参数测定,筛选、去除、去除变质或故障的零部件,zui很有可能在正常使用前消灭产品的早期失效。为了提高电子电器产品的可靠性和延长产品寿命,对产品的稳定性进行必要的评价,消除存在“早期死亡”缺陷的潜在“对象”(部件),确保整机质量和预期寿命的工艺是高温老化的原理。
一、高温老化试验方法 1、荧光紫外线因波长为254nm的低压汞灯的共存物而转换为长波长,荧光紫外线的能量分布取决于磷共存物引起的发射光谱和玻璃管的扩散。荧光紫外线灯具有特定的光谱段。目前有两种类型:UVA(351,340)和UVB(313,F40)。UVA-340型灯能很好地模拟太阳光的短波长紫外光谱范围,其光谱能量分布与太阳光谱中360nm报废的光谱非常相似,更接近太阳光的光谱。 2、热老化实验通过加速氧、热作用下材料的老化过程,反映材料的耐热氧老化性能。烤箱法老化实验是耐热实验的一般方法,根据材料的使用要求和实验目的来确定实验温度。温度上限可根据相关技术规范确定,一般热塑性材料应低于比卡软化点,热固性材料应低于热变形温度,或通过勘探实验选择不发生样品分解或明显变形的温度。 二、高温老化试验标准 1、标准号:JJF(**)156-2017 标准名称:电容器高温老化系统校准规范 标准状态:有效 2、标准号:JJF1179-2007 标准名称:集成电路高温动态老化系统校准规范 3、标准号:JJG(**)91-2015 标准名称:ELEA-JVLSI高温动态老化系统校验规程 4、标准号:GB/T32368-2015 标准名称:胶粘带耐高温高湿老化的试验方法 5、标准号:QJ2328A-2005 标准名称:复合固体推进剂高温加速老化试验方法 |